自動試験装置（ATE）IC
インターシルは、次世代の自動試験装置（ATE）を実現する、革新的な低消費電力、高集積なICを提供しています。高密度で低消費電力なソリューションで、お客様の製品に付加価値を提供し、市場競争力を高めます。ATE市場向けに機能レベルの異なる幅広い製品を提供し、システム・オン・ア・チップ（SOC）試験、メモリ試験、TDBI（Test During Burn-in）、ICT（In-Circuit Test）といった、さまざまなニーズにお応えします。
New Products: 自動試験装置（ATE）IC
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ISL55163
SOC Dual Channel 400MHz Pin Electronics/DAC/PMU -
ISL55161
SOC Dual Channel 400MHz Pin Electronics/DAC/PMU -
ISL55162
SOC Dual Channel 300MHz Pin Electronics/DAC/PMU/Deskew -
ISL55164
SOC Dual Channel 133MHz Pin Electronics Solution -
TRITON
SOC Octal Wide Voltage PMU / Load -
SATURN
System on a Chip, Dual Channel wide Voltage Pin Electronics Solution
